今天跟大家分享一下粒度測(cè)試的重復(fù)性及真實(shí)性這兩種指標(biāo)的概念。
 

　　一、粒度測(cè)試的重復(fù)性
 

　　同一個(gè)樣品多次測(cè)量結(jié)果之間的偏差。重復(fù)性指標(biāo)是衡量一個(gè)粒度測(cè)試儀器和方法好壞的重要的指標(biāo)。它的計(jì)算方法是:
 

　　其中，n為測(cè)量次數(shù)(一般n>=10);
 

　　x i為每次測(cè)試結(jié)果的典型值(一般為D50值);
 

　　x為多次測(cè)試結(jié)果典型值的平均值;
 

　　σ為標(biāo)準(zhǔn)差;
 

　　δ為重復(fù)性相對(duì)誤差。
 

　　影響粒度測(cè)試重復(fù)性有儀器和方法本身的因素;樣品制備方面的因素;環(huán)境與操作方面的因素等。粒度測(cè)試應(yīng)具有良好的重復(fù)性是對(duì)儀器和操作人員的基本要求。
 

　　二、粒度測(cè)試的真實(shí)性
 

　　通常的測(cè)量?jī)x器都有準(zhǔn)確性方面的指標(biāo)。由于粒度測(cè)試的特殊性，通常用真實(shí)性來表示準(zhǔn)確性方面的含義。由于粒度測(cè)試所測(cè)得的粒徑為等效粒徑，對(duì)同一個(gè)顆粒，不同的等效方法可能會(huì)得到不同的等效粒徑。
 

　　可見，由于測(cè)量方法不同，同一個(gè)顆粒得到了兩個(gè)不同的結(jié)果。也就是說，一個(gè)不規(guī)則形狀的顆粒，如果用一個(gè)數(shù)值來表示它的大小時(shí)，這個(gè)數(shù)值不是*的，而是有一系列的數(shù)值。
 

　　而每一種測(cè)試方法的都是針對(duì)顆粒的某一個(gè)特定方面進(jìn)行的，所得到的數(shù)值是所有能表示顆粒大小的一系列數(shù)值中的一個(gè)，所以相同樣品用不同的粒度測(cè)試方法得到的結(jié)果有所不同的是客觀原因造成的。顆粒的形狀越復(fù)雜，不同測(cè)試方法的結(jié)果相差越大。
 

　　但這并不意味著粒度測(cè)試結(jié)果可以漫無邊際，而恰恰應(yīng)具有一定的真實(shí)性，就是應(yīng)比較真實(shí)地反映樣品的實(shí)際粒度分布。真實(shí)性目前還沒有嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)，是一個(gè)定性的概念。
 

　　但有些現(xiàn)象可以做為測(cè)試結(jié)果真實(shí)性好壞的依據(jù)。比如儀器對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣的測(cè)量結(jié)果應(yīng)在標(biāo)稱值允許的誤差范圍內(nèi);經(jīng)粉碎后的樣品應(yīng)比粉粉碎前更細(xì);經(jīng)分級(jí)后的樣品的大顆粒含量應(yīng)減少;結(jié)果與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或*的方法一致等。